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PROUCTS LIST
每款不一樣的測試樣品,放入到了恒溫恒濕試驗箱中做實驗,它們都有一定的講究。有一空的測試流程,以下皓天小編總結供參考:
1、在樣品斷電的狀態(tài)下,先將溫度下降到-50°C,保持4個小時;請勿在樣品通電的狀態(tài)下進行低溫測試,非常重要,因為通電狀態(tài)下,芯片本身就會產(chǎn)生+20°C以上溫度,所以,在通電狀態(tài)下,通常比較容易通過低溫測試,必須先將其“凍透”,再次通電進行測試。
2、開機,對樣品進行性能測試,對比性能與常溫相比是否正常。
3、進行老化測試,觀察是否有數(shù)據(jù)對比錯誤。
4、升溫到+90°C,保持4個小時,與低溫測試相反,升溫過程不斷電,保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài),4個小時后,執(zhí)行2、3、4測試步驟。
5、高溫和低溫測試分別重復10次。
6、如果測試過程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài),則視為測試失敗。