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半導(dǎo)體檢測冷熱沖擊試驗(yàn)箱是怎么測試條件?

發(fā)布時(shí)間: 2020-09-17  點(diǎn)擊次數(shù): 1240次

    半導(dǎo)體是指常溫下導(dǎo)電性能介于導(dǎo)體與絕緣之間的材料。半導(dǎo)體在收音機(jī),電視機(jī)及測溫上有著廣泛的應(yīng)用。 環(huán)境的影響對于半導(dǎo)體的質(zhì)量和使用壽命影響因素比較大,尤其是一些半導(dǎo)體出口企業(yè),不單只借助冷熱沖擊試驗(yàn)箱對半導(dǎo)體產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境測試和實(shí)驗(yàn),還會借助皓天高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,高低溫濕熱交變箱。

 半導(dǎo)體檢測冷熱沖擊試驗(yàn)箱什么樣測試條件才能滿足半導(dǎo)體需要?

 1.  款式:三箱或兩箱(任意選擇)

 2. 溫度沖擊范圍:高溫:(+60~+150)℃/低溫:(-65~-10)℃

 3.高溫區(qū)預(yù)熱溫度:+60℃→+180℃

 4.低溫區(qū)預(yù)冷溫度:-70℃~-10℃

5.試驗(yàn)條件:

   GB/T 2423.1-2008 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法、GB/T 2423.2-2008 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法、          GB/T2423.22-2002 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Na

   GJB 150.5A-2009 軍用設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)

   GJB 360A-1996   溫度沖擊試驗(yàn)、IEC 68-2-14 試驗(yàn)方法 N :溫度變化

  GJB367.2-2001   通信設(shè)備通用規(guī)范   溫度沖擊試驗(yàn)

   冷熱沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)原理分高溫區(qū)、低溫區(qū)兩部分,測試樣品放置在其中一個(gè)吊籃工作室內(nèi),通過氣動(dòng)方式實(shí)現(xiàn)樣品在高低溫室的切換,完成冷熱溫度沖擊測試。*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)確保試驗(yàn)箱恒溫性能良好。