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簡要描述:集成電路高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,同時(shí)通過此裝備試驗(yàn),可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
瀏覽次數(shù):1091
所屬分類:三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
產(chǎn)品時(shí)間:2024-11-08
適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,同時(shí)通過此裝備試驗(yàn),可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
集成電路高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱
內(nèi)箱尺寸:
容積(單位:L) | 工作室尺寸(D*W*H)mm | 外型尺寸(D*W*H)mm |
TSD-50F-3P | 450×450×500 | 930×1700×1650 |
溫度范圍:
溫度范圍 | A:-20℃~150℃ B:-40℃~150℃ C:-60℃~150℃ |
溫度波動(dòng) | 高溫室與低溫室均≤±2℃ |
樣品區(qū)溫度波動(dòng) | ≤±0.5℃(恒溫時(shí)) |
樣品區(qū)承重 | 20㎏、30㎏、50㎏ |
安裝場地
地面平整,通風(fēng)良好
設(shè)備周圍無強(qiáng)烈振動(dòng)
設(shè)備周圍無強(qiáng)電磁場影響
設(shè)備周圍無易燃、易爆、腐蝕性物質(zhì)和粉塵
設(shè)備周圍留有適當(dāng)?shù)氖褂眉熬S護(hù)空間,如圖所示:
A:不小于60cm
B:不小于60cm
C: 不小于120cm
注:(設(shè)備傾斜角度不能超過15℃
集成電路高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱
售后服務(wù)承諾
一 .設(shè)備免費(fèi)保修24個(gè)月,并免費(fèi)提供三次季度保養(yǎng)。24個(gè)月后如出現(xiàn)故障,我公司實(shí)行終身維修,只收取維修成本費(fèi)。
二 .新機(jī)到廠后,我司提供設(shè)備之安裝和教育訓(xùn)練,培訓(xùn)時(shí)間為1-2個(gè)工作日完成。其它非本公司設(shè)備及管路由貴廠方負(fù)責(zé)配合施工。
三 .維修服務(wù):一般維修為客戶通報(bào)本公司售后服務(wù)部時(shí)起24小時(shí)內(nèi)到廠,緊急維修為客戶通報(bào)本公司售后服務(wù)部時(shí)起12小時(shí)內(nèi)到廠。維修備份零組件五年以上庫存。
注:以下非本公司免費(fèi)保固和保養(yǎng)范疇
1:使用不慎或錯(cuò)誤而導(dǎo)致之機(jī)臺損壞。
2:自行檢修改裝及不當(dāng)之移動(dòng)。
3:因天災(zāi)等惡劣環(huán)境所造成的不可預(yù)估之損壞或故障。