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架構(gòu)式小型高低溫濕熱試驗箱

架構(gòu)式小型高低溫濕熱試驗箱

簡要描述:架構(gòu)式小型高低溫濕熱試驗箱:該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。

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所屬分類:可編程高低溫濕熱試驗箱

產(chǎn)品時間:2024-11-08

詳情介紹

   本試驗是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時間。該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。

內(nèi)空:36L或40L

溫度:-70~150

濕度:20~98%

均勻度:正負2度

溫度偏差:正負1度

溫度波動度:小于等于0.5度

溫度均勻度:3%

架構(gòu)式小型高低溫濕熱試驗箱



該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

架構(gòu)式小型高低溫濕熱試驗箱

適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A:低溫試驗方法,試驗B:高溫試驗方法》對產(chǎn)品進行低溫及高溫試驗。適用于電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品)的高低溫度 ;


1. 溫度:15℃~35℃
2.相對濕度:不大于85%RH
3.周圍無強烈振動、無強烈電磁場影響
4.周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
5.無陽光直接照射或其它熱源直接輻射
6.周圍無強烈氣流,當(dāng)周圍空氣需要強制流 時,氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。
7.試驗箱應(yīng)放置平穩(wěn),保持水平。
8.試驗箱的四周應(yīng)留有一定的距離,方便維修操作。
9.安裝場地通風(fēng)良好
10.單相(220V 50Hz)3KW
11.良好接地





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