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負(fù)110度溫度熱沖擊試驗(yàn)箱TSE-252PF-3P

負(fù)110度溫度熱沖擊試驗(yàn)箱TSE-252PF-3P

簡要描述：負(fù)110度溫度熱沖擊試驗(yàn)箱TSE-252PF-3P：電子芯片lC、半導(dǎo)體材料陶磁及纖維材料之物理學(xué)性轉(zhuǎn)變，檢測其原材料對高低溫試驗(yàn)的不斷低抗拉力及商品于熱漲冷縮商品的化學(xué)反應(yīng)或物理傷害，可確定商品的質(zhì)量，從高精密lC到重機(jī)械的部件

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所屬分類：溫度沖擊試驗(yàn)箱

產(chǎn)品時間：2024-11-09

詳情介紹

兩箱式冷熱沖擊箱-TSD-70PF-2P-220321-細(xì)節(jié)圖1.jpg

負(fù)110度溫度熱沖擊試驗(yàn)箱TSE-252PF-3P

電子芯片lC、半導(dǎo)體材料陶磁及纖維材料之物理學(xué)性轉(zhuǎn)變，檢測其原材料對高低溫試驗(yàn)的不斷低抗拉力及商品于熱漲冷縮商品的化學(xué)反應(yīng)或物理傷害，可確定商品的質(zhì)量，從高精密lC到重機(jī)械的部件。

負(fù)110度溫度熱沖擊試驗(yàn)箱TSE-252PF-3P

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工作室尺寸（約）

600x600x700   

高溫室

高溫室溫度范圍：常溫?+18CTC 溫度上升時間：常溫->+150°C<60min

低溫室

低溫室溫度范圍：預(yù)冷溫度范圍：-115℃?+60℃ 溫度下降時間：常溫→-115℃≦120min

溫度沖擊范圍

-100 ?+125℃

溫度波動度

≦0.5℃

溫度均勻度

≤2℃

溫度偏差

≤2℃

風(fēng)門轉(zhuǎn)換時間

≤5s

溫度恢復(fù)時間

≦5 ?lOmin

溫度恢復(fù)條件

-100℃恒定30min, +125三十多恒定30mino 常溫5min

637879662643640081834.jpg

符合標(biāo)準(zhǔn)：JB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高 溫試驗(yàn)。 GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低 溫試驗(yàn)。 GJB150.5A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分： 溫度沖擊試驗(yàn)。 GJB360B-2009電子及電氣元件試驗(yàn)方法107溫度沖擊試驗(yàn) 中空氣介質(zhì)法

兩箱式冷熱沖擊箱-TSD-70PF-2P-220321-首圖3.jpg




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