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簡要描述:高低溫實(shí)驗(yàn)設(shè)備測試標(biāo)準(zhǔn):,可將低溫、高溫、試驗(yàn)時間、程序一次性設(shè)定,由設(shè)備自行走程序運(yùn)行,是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測試設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
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所屬分類:物理實(shí)驗(yàn)設(shè)備高低溫測試儀
產(chǎn)品時間:2024-11-09
高低溫實(shí)驗(yàn)設(shè)備測試標(biāo)準(zhǔn):可將低溫、高溫、試驗(yàn)時間、程序一次性設(shè)定,由設(shè)備自行走程序運(yùn)行,是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域測試設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
高低溫實(shí)驗(yàn)設(shè)備測試標(biāo)準(zhǔn)
①GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
②GB/T 2423.2-2001 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
③GJB 150.3-1986 高溫試驗(yàn)
④GJB 150.4-1986 低溫試驗(yàn)
⑤IEC68-2-1 試驗(yàn)A:寒冷.
⑥GB 11158《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
⑦GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》.
⑧GB/T10586-89 濕熱試驗(yàn)箱條件
⑨GT/T2423.3-93、GT/T2423.4-93 濕熱試驗(yàn)箱