服務(wù)熱線
歡迎您,來(lái)到東莞市皓天試驗(yàn)設(shè)備有限公司!
PROUCTS LIST
簡(jiǎn)要描述:高低溫溫度沖擊試驗(yàn)箱(左右吊籃沖擊):電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)測(cè)試。
瀏覽次數(shù):330
所屬分類:溫度沖擊試驗(yàn)箱
產(chǎn)品時(shí)間:2024-11-09
高低溫溫度沖擊試驗(yàn)箱(左右吊籃沖擊):電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)測(cè)試。
一、型號(hào):TSC-225PF-2P
二、沖擊溫度:-40~150
三、精度條件:高溫~低溫5分鐘內(nèi)達(dá)到,9點(diǎn)溫度均勻度正負(fù)2度
高低溫溫度沖擊試驗(yàn)箱(左右吊籃沖擊)
1)試驗(yàn)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi),并將試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度升到達(dá)點(diǎn),保持一定的時(shí)間至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,以時(shí)間長(zhǎng)都為準(zhǔn)。
2)高溫階段結(jié)束后,在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi),保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,以時(shí)間長(zhǎng)都為準(zhǔn)。3)低溫階段結(jié)束后,在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi),保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,以時(shí)間長(zhǎng)都為準(zhǔn)。
4、重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法,以完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小,時(shí)間可能會(huì)略有誤差?;謴?fù):試驗(yàn)樣品從試驗(yàn)箱內(nèi)取出后,應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù),直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。
5.后檢測(cè):對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測(cè)結(jié)果評(píng)定。