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PROUCTS LIST
簡要描述:箱式溫濕度紫外線老化測試箱符合國際測試標(biāo)淮:ASTM D4329、D499、D4587、D5208、G154、G53;ISO 4892-3、ISO 11507;等所有現(xiàn)行紫外線老化試驗(yàn)標(biāo)淮。
瀏覽次數(shù):1267
所屬分類:箱式紫外線耐候老化試驗(yàn)箱
產(chǎn)品時(shí)間:2024-11-08
箱式溫濕度紫外線老化測試箱
適用于多種工業(yè)產(chǎn)品的性能可靠性試驗(yàn):
GB/T14522-93《中華人民共和國國家標(biāo)淮--機(jī)械工業(yè)產(chǎn)品用塑料、涂料、橡膠材料—熒光燈人工氣候加速試驗(yàn)方法》
GB/T16585-1996《中華人民共和國國家標(biāo)淮—硫化橡膠人工氣候老化(熒光紫外燈)試驗(yàn)方法》及GB/T16422.3-1997《塑料實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法》等相應(yīng)標(biāo)淮條款設(shè)計(jì)制造;
符合國際測試標(biāo)淮:ASTM D4329、D499、D4587、D5208、G154、G53;ISO 4892-3、ISO 11507;等所有現(xiàn)行紫外線老化試驗(yàn)標(biāo)淮。
箱式溫濕度紫外線老化測試箱
性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子産品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求。
電工電子産品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)。
電工電子産品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)。
電工電子産品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93(IEC68-2-3)。
電工電子産品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da:交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)。
a.可使用的程序組:大50組
b.可使用的記憶容量:共5000SEGMENTS。
c.可重復(fù)執(zhí)行命令:每一個(gè)命令可達(dá)9999次。
d.程序之制作采對(duì)談式,具有編輯、清除、插入等功能。
e.SEGMENTS時(shí)間設(shè)定0~530Hour59Min。
f.具有斷電程序記憶,復(fù)電后自動(dòng)啓動(dòng)并接續(xù)執(zhí)行程序功能(可保存10年以上)。
g.程序執(zhí)行時(shí)可實(shí)時(shí)顯示圖形曲線。
h.具有日期、時(shí)間調(diào)整功能。
i.按鍵及畫面鎖定(LOCK)功能。