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簡要描述:調(diào)頻風(fēng)速紫外線高低溫老化箱由陽光造成的危害,利用螢光紫外線燈模擬陽光照射的效果,被測試材料放置于恒定溫度下的光照中進行測試。用數(shù)天或數(shù)周的時間即可重現(xiàn)戶外數(shù)月或數(shù)年出現(xiàn)的危害。危害類型包括:褪色、變色、失光、粉光、開裂、剝落、渾濁、氣泡、脆變、強度降低、衰退和氧化等
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所屬分類:箱式紫外線耐候老化試驗箱
產(chǎn)品時間:2024-11-08
調(diào)頻風(fēng)速紫外線高低溫老化箱
由陽光造成的危害,利用螢光紫外線燈模擬陽光照射的效果,被測試材料放置于恒定溫度下的光照中進行測試。用數(shù)天或數(shù)周的時間即可重現(xiàn)戶外數(shù)月或數(shù)年出現(xiàn)的危害。危害類型包括:褪色、變色、失光、粉光、開裂、剝落、渾濁、氣泡、脆變、強度降低、衰退和氧化等
適用于多種工業(yè)產(chǎn)品的性能可靠性試驗:
GB/T14522-93《中華人民共和國國家標淮--機械工業(yè)產(chǎn)品用塑料、涂料、橡膠材料—熒光燈人工氣候加速試驗方法》
GB/T16585-1996《中華人民共和國國家標淮—硫化橡膠人工氣候老化(熒光紫外燈)試驗方法》及GB/T16422.3-1997《塑料實驗室光源暴露試驗方法》等相應(yīng)標淮條款設(shè)計制造;
符合國際測試標淮:ASTM D4329、D499、D4587、D5208、G154、G53;ISO 4892-3、ISO 11507;等所有現(xiàn)行紫外線老化試驗標淮。
調(diào)頻風(fēng)速紫外線高低溫老化箱
性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子産品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求。
電工電子産品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)。
電工電子産品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)。
電工電子産品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93(IEC68-2-3)。
電工電子産品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Da:交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)。
a.可使用的程序組:大50組
b.可使用的記憶容量:共5000SEGMENTS。
c.可重復(fù)執(zhí)行命令:每一個命令可達9999次。
d.程序之制作采對談式,具有編輯、清除、插入等功能。
e.SEGMENTS時間設(shè)定0~530Hour59Min。
f.具有斷電程序記憶,復(fù)電后自動啓動并接續(xù)執(zhí)行程序功能(可保存10年以上)。
g.程序執(zhí)行時可實時顯示圖形曲線。
h.具有日期、時間調(diào)整功能。
i.按鍵及畫面鎖定(LOCK)功能。